Halvlederanalyse
-
DB-FIB
Tjenesteintroduksjon For tiden er DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) mye brukt i forskning og produktinspeksjon på tvers av felt som: Keramiske materialer，Polymerer，Metallmaterialer，Biologiske studier，Halvledere，Geologitjenesteomfang Halvledermaterialer, organiske/uorganiske materialer, organiske materialer, organiske molekyler ikke-metalliske materialer Tjenestebakgrunn Med den raske utviklingen av halvlederelektronikk og integrerte kretser... -
Destruktiv fysisk analyse
Kvalitetskonsistensenav produksjonsprosessenielektroniske komponentererforutsetningenfor elektroniske komponenter for å oppfylle deres bruk og relaterte spesifikasjoner. Et stort antall forfalskede og renoverte komponenter oversvømmer komponentforsyningsmarkedet, tilnærmingenfor å fastslå ektheten til hyllekomponenter er et stort problem som plager komponentbrukere.
-
Feilanalyse
Med forkortningen av FoU-syklusen til bedriften og veksten i produksjonsskalaen, står selskapets produktstyring og produktkonkurranseevne overfor flere press fra innenlandske og utenlandske markeder. Gjennom hele livssyklusen til produktet er produktkvaliteten garantert, og den lave feilprosenten eller til og med null Feil blir en viktig konkurransekraft for en bedrift, men det er også en utfordring for bedriftens kvalitetskontroll.
