AQG324 Power Device-sertifisering
Tjenesteintroduksjon
ECPE Working Group AQG 324 etablert i juni 2017 jobber med en europeisk kvalifikasjonsretningslinje for kraftmoduler for bruk i kraftelektronikkkonverteringsenheter i motorkjøretøyer.
Basert på den tidligere tyske LV 324 ('Kvalifisering av kraftelektronikkmoduler for bruk i motorkjøretøykomponenter - Generelle krav, testbetingelser og tester') definerer ECPE-retningslinjen en felles prosedyre for karakterisering av modultesting samt for miljø- og livstidstesting av kraftelektronikkmoduler for bilapplikasjoner.
Retningslinjen er utgitt av den ansvarlige industrielle arbeidsgruppen som består av ECPE-medlemsbedrifter med mer enn 30 industrirepresentanter fra billeverandørkjeden.
Den nåværende AQG 324-versjonen datert 12. april 2018 fokuserer på Si-baserte kraftmoduler der fremtidige versjoner som skal utgis av arbeidsgruppen også vil dekke de nye krafthalvlederne SiC og GaN med brede båndgap.
Ved å dypt tolke AQG324 og relaterte standarder fra ekspertteamet, har GRGT etablert de tekniske egenskapene til kraftmodulverifisering, og levert autoritative AQG324 inspeksjons- og verifikasjonsrapporter for opp- og nedstrømsbedrifter i krafthalvlederindustrien.
Tjenesteomfang
Strømenhetsmoduler og tilsvarende spesialdesignprodukter basert på diskrete enheter
Teststandarder
● DINENISO/IEC17025：Generelle krav for kompetanse til test- og kalibreringslaboratorier
● IEC 60747：Halvlederenheter, diskrete enheter
● IEC 60749：Halvlederenheter - mekaniske og klimatiske testmetoder
● DIN EN 60664: Isolasjonskoordinering for utstyr innen lavspenningssystemer
● DINEN60069：Miljøtesting
● JESD22-A119:2009：Lavtemperaturlagringstid
Test elementer
| Testtype | Test elementer |
| Moduldeteksjon | Statiske parametere, dynamiske parametere, tilkoblingslagsdeteksjon (SAM), IPI/VI, OMA |
| Modulkarakteristikktest | Parasittisk strøinduktans, termisk motstand, kortslutningsmotstand, isolasjonstest, mekanisk parameterdeteksjon |
| Miljøtest | Termisk sjokk, mekanisk vibrasjon, mekanisk sjokk |
| Livsprøve | Power cycling (PCsec, PCmin), HTRB, HV-H3TRB, dynamisk gate bias, dynamisk revers bias, dynamisk H3TRB, kroppsdiode bipolar degradering |
